Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов

Материал из srf-skif
Версия от 07:43, 3 апреля 2019; Riv (обсуждение | вклад)
(разн.) ← Предыдущая | Текущая версия (разн.) | Следующая → (разн.)
Перейти к: навигация, поиск

Институт Ядерной Физики СО РАН совместно с группой компаний «Научное оборудование» и компанией «Мелитэк» приглашает Вас принять участие в научно-практических семинарах на тему «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», «Новейшие решения для регистрации и обработки быстропротекающих процессов, требующих полосы пропускания 110 ГГц»

Место проведения: ИЯФ СО РАН, пр. Ак. Лаврентьева, 11

Даты: 19 и 20 марта 2019 года


Программа семинара «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов» (pdf).

Программа семинара «Новейшие решения для регистрации и обработки быстропротекающих процессов, требующих полосы пропускания 110 ГГц» (pdf).

Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года

Ссылка для регистрации: [1]

В программе предусмотрен мастер-класс для индивидуальной работы с Вашими образцами!



Если у Вас есть вопросы или пожелания к содержанию семинара, докладчикам, просим обращаться:

Гольденберг Борис Григорьевич: +7 (913) 719-45-37, goldenberg@ngs.ru

Хомиченко Наталья: +7 (923) 253-88-69, khomichenko@spegroup.ru


Надеемся увидеть Вас в числе гостей.

Будем рады направить дополнительную информацию и ответить на любые интересующие Вас вопросы.