<?xml version="1.0"?>
<feed xmlns="http://www.w3.org/2005/Atom" xml:lang="ru">
		<id>http://srf-skif.ru/index.php?action=history&amp;feed=atom&amp;title=%D0%A1%D1%82%D0%B0%D0%BD%D1%86%D0%B8%D0%B8_%D0%B2%D1%82%D0%BE%D1%80%D0%BE%D0%B9_%D0%BE%D1%87%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%B4%D0%B8</id>
		<title>Станции второй очереди - История изменений</title>
		<link rel="self" type="application/atom+xml" href="http://srf-skif.ru/index.php?action=history&amp;feed=atom&amp;title=%D0%A1%D1%82%D0%B0%D0%BD%D1%86%D0%B8%D0%B8_%D0%B2%D1%82%D0%BE%D1%80%D0%BE%D0%B9_%D0%BE%D1%87%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%B4%D0%B8"/>
		<link rel="alternate" type="text/html" href="http://srf-skif.ru/index.php?title=%D0%A1%D1%82%D0%B0%D0%BD%D1%86%D0%B8%D0%B8_%D0%B2%D1%82%D0%BE%D1%80%D0%BE%D0%B9_%D0%BE%D1%87%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%B4%D0%B8&amp;action=history"/>
		<updated>2026-04-21T13:32:52Z</updated>
		<subtitle>История изменений этой страницы в вики</subtitle>
		<generator>MediaWiki 1.29.2</generator>

	<entry>
		<id>http://srf-skif.ru/index.php?title=%D0%A1%D1%82%D0%B0%D0%BD%D1%86%D0%B8%D0%B8_%D0%B2%D1%82%D0%BE%D1%80%D0%BE%D0%B9_%D0%BE%D1%87%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%B4%D0%B8&amp;diff=280&amp;oldid=prev</id>
		<title>Riv: Новая страница: « Таблица 1. Предварительный список экспериментальных станций второй очереди, использующ…»</title>
		<link rel="alternate" type="text/html" href="http://srf-skif.ru/index.php?title=%D0%A1%D1%82%D0%B0%D0%BD%D1%86%D0%B8%D0%B8_%D0%B2%D1%82%D0%BE%D1%80%D0%BE%D0%B9_%D0%BE%D1%87%D0%B5%D1%80%D0%B5%D0%B4%D0%B8&amp;diff=280&amp;oldid=prev"/>
				<updated>2019-05-28T05:18:57Z</updated>
		
		<summary type="html">&lt;p&gt;Новая страница: « Таблица 1. Предварительный список экспериментальных станций второй очереди, использующ…»&lt;/p&gt;
&lt;p&gt;&lt;b&gt;Новая страница&lt;/b&gt;&lt;/p&gt;&lt;div&gt;&lt;br /&gt;
Таблица 1. Предварительный список экспериментальных станций второй очереди, использующих излучение вставных устройств&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
{| class=&amp;quot;wikitable&amp;quot; style=&amp;quot;text-align: left; &amp;quot;&lt;br /&gt;
|Шифр&lt;br /&gt;
|Название&lt;br /&gt;
|Источник излучения&lt;br /&gt;
|Направление исследований&lt;br /&gt;
|Особые требования&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-1&lt;br /&gt;
|Вектор (по инициативе ФБУН ГНЦ ВБ «Вектор»)&lt;br /&gt;
|Ондулятор&lt;br /&gt;
|Использование методов макромолекулярной кристаллографии, малоуглового рассеяния и когерентного имиджинга для решения задач эпидемиологии, вирусологии и биологической защиты&lt;br /&gt;
|Необходим изолированный участок здания площадью не менее 400 м2 для работы с биологически опасными и вредными веществами.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-2&lt;br /&gt;
|Белок&lt;br /&gt;
|Ондулятор&lt;br /&gt;
|Реализация методов белковой кристаллографии с использованием эффектов аномального рассеяния (метода аномальной дифракции на нескольких длинах волн, MAD) с акцентом на режим серийной кристаллографии для микрокристаллов, а также когерентной визуализации биологических объектов.&lt;br /&gt;
|Функциональный аналог секции 1-1-2 «Белковая кристаллография», будут использоваться те же помещения пробоподготовки (биохимическая лаборатория и комнаты кристаллизации) желательно разместить в здании недалеко от секции 1-1-2 и Лабораторного корпуса.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-3&lt;br /&gt;
|Монокристалл&lt;br /&gt;
|Ондулятор&lt;br /&gt;
|Реализация метода рентгеноструктурного анализа монокристаллов низкомолекулярных соединений в условиях различных внешних воздействий с высоким временным разрешением с использованием источника с перестраиваемой энергий.&lt;br /&gt;
|Функциональный аналог секции 1-2-2 «Моно-РСА».&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-4&lt;br /&gt;
|Спектр&lt;br /&gt;
|Два спиральных ондулятора в одном линейном промежутке&lt;br /&gt;
|Реализация комплекса рентгеноспектральных методов (XPS, HAXPES, NEXAFS, EXAFS, XES, RIXS, XRS, XMCD)в широком энергетическом диапазоне 50-10000 эВ с варьируемой поляризацией.&lt;br /&gt;
|Нестандартная оптическая схема, позволяющая одновременно использовать пучки мягкого и жесткого диапазонов.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-5&lt;br /&gt;
|Плазма-2&lt;br /&gt;
|Ондулятор&lt;br /&gt;
|Мониторинг структурных изменений поверхности образца в условиях обработки водородной плазмой, моделирующей процессы в термоядерных установках, в режиме реального времени.&lt;br /&gt;
|Функциональный аналог секций 1-3-1 и 1-3-2. В состав войдет устройство генерации и направления потока плазмы на образец. Необходимо разместить поблизости от Cтанции 1-3.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-6&lt;br /&gt;
|Гамма-2&lt;br /&gt;
|Ондулятор&lt;br /&gt;
|Реализация метода гамма-резонансной спектроскопии для нетипичных мессбауэровских изотопов в интервале энергий 8-50 кэВ.&lt;br /&gt;
|Функциональный аналог секции 1-1-3 «Гамма-резонанс».&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-7&lt;br /&gt;
|ED-EXAFS&lt;br /&gt;
|Вигглер&lt;br /&gt;
|Спектроскопия EXAFS в энерго-дисперсионном режиме с субмиллисекундным временным разрешением для образцов под внешним воздействием (Pump-probe).&lt;br /&gt;
|&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-8&lt;br /&gt;
|Жесткий рентген-2&lt;br /&gt;
|Вигглер&lt;br /&gt;
|Рентгенофлуоресцент-ное картографирование тяжелых элементов и визуализация конструкционных материалов с использованием жесткого рентгеновского излучения (30-80 кэВ).&lt;br /&gt;
|Сочетание функциональных возможностей секции 1-1-1 «Элементное картографи-рование» &lt;br /&gt;
и секции 1-5-1 «Рентгеновская микроскопия и томография».&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|}&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Таблица 2. Предварительный список экспериментальных станций второй очереди, использующих излучение поворотных магнитов&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
{| class=&amp;quot;wikitable&amp;quot; style=&amp;quot;text-align: left; &amp;quot;&lt;br /&gt;
|Шифры&lt;br /&gt;
|Блок станций&lt;br /&gt;
|Направление исследований&lt;br /&gt;
|Особые требования&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-9...2-13&lt;br /&gt;
|Технология&lt;br /&gt;
|Блок из 5 станций технологической направленности, включающий три станции диагностики технологических устройств (Метрология ВУФ-диапазона, оптическая диагностика пучка, аттестация когерентной оптики), а также две станции рентгеновской литографии (литография высокого разрешения и глубокая рентгеновская литография).&lt;br /&gt;
|&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-14, 2-15&lt;br /&gt;
|Образование &lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
НГУ&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
НГТУ&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|Исследования атомной и электронной структуры и состава веществ и материалов различной природы.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
Исследования эволюции конструкционных материалов в условиях их эксплуатации (деформация, сварка, трение и пр.).&lt;br /&gt;
|Особые условия на распределение экспериментального времени и унификацию компоновки станции, связанные с организацией учебного процесса. Простая и надежная в работе схема управления для работы студентов.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-16...2-20&lt;br /&gt;
|Бесперебойная работа&lt;br /&gt;
|Станции, функционально дублирующие секции первой очереди для обеспечения 100%-ной доступности основных методов:&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
- XPS/NEXAFS в мягком диапазоне;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
- МУРР;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
- EXAFS;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
- РСА (прецизионные измерения для реконструкции распределения электронной плотности;&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
- визуализация.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
| Аналог секций 1-6-1, 1-2-4, 1-3-1, 1-2-2, 1-5-3.&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-21...2-23&lt;br /&gt;
|Методическое развитие&lt;br /&gt;
|Гибкие модульные станции для развития и аттестации новых диагностических методик&lt;br /&gt;
|&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|2-24&lt;br /&gt;
|Международное сотрудничество&lt;br /&gt;
|Российско-белорусская станция.&lt;br /&gt;
|&lt;br /&gt;
&lt;br /&gt;
|-&lt;br /&gt;
|}&lt;/div&gt;</summary>
		<author><name>Riv</name></author>	</entry>

	</feed>